大型天线机械指向精度测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010686199.3
IPC分类号：G01C11/02;G01C11/00;G01B11/00
申请日期：
2020-07-16
申请人：
上海宇航系统工程研究所

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著录项信息

专利名称	大型天线机械指向精度测量方法
申请号	CN202010686199.3	申请日期	2020-07-16
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-03	公开/公告号	CN111879290A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01C11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01C 测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学（液体水平面的测量入G01F；无线电导航，通过利用无线电波的传播效应，例如多普勒效应，传播时间来测定距离或速度，利用其他波的类似装置入G01S） G01C11/00 摄影测量学或视频测量学，例如，立体摄影测量学；摄影测量术〔1，8〕 G01C11/02 专门用于摄影测量学或摄影测量术的照相装置，例如控制照片重叠的装置	IPC分类号	G;0;1;C;1;1;/;0;2;;;G;0;1;C;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	上海宇航系统工程研究所	申请人地址	上海市闵行区元江路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海宇航系统工程研究所	当前权利人	上海宇航系统工程研究所
发明人	任振平;钟鸣;王洁;金博;席春树;梁宝柱;徐庆;杨晨;李志威;瞿佳蔚;肖杰
代理机构	上海航天局专利中心	代理人	暂无

摘要

本发明的一种大型天线机械指向精度测量方法包括在星体两侧分别设置立柱，所述立柱上设有测量点；在天线阵面展开前，拍摄星体基准测量点和立柱测量点，建立星体坐标系与立柱坐标系之间的关系；展开天线阵面，拍摄天线阵面测量点和立柱测量点，建立天线阵面坐标系与立柱坐标系之间的关系；根据星体坐标系与立柱坐标系之间的关系以及天线阵面坐标系与立柱坐标系之间的关系，得到星体坐标系与天线阵面坐标系的关系，即天线机械指向精度。

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