一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201710846527.X
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194
申请日期：
2017-09-18
申请人：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置
申请号	CN201710846527.X	申请日期	2017-09-18
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-02-02	公开/公告号	CN107657606A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;3;;;G;0;6;T;7;/;1;3;6;;;G;0;6;T;7;/;1;8;7;;;G;0;6;T;7;/;1;9;4查看分类表>
申请人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司	当前权利人	深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
发明人	史超超
代理机构	深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	钟子敏

摘要

本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置。该方法包括如下步骤：输入第一图像；检测第一图像的点状缺陷，并对点状缺陷进行补偿以得到第二图像；检测第二图像的线状缺陷，并对线状缺陷进行补偿以得到第三图像；检测第三图像的块状缺陷；将第一图像的点状缺陷、第二图像的线状缺陷以及第三图像的块状缺陷整合，以得到亮度缺陷检测结果。本发明公开了一种显示装置的亮度缺陷检测方法与装置，通过检测点状缺陷与线状缺陷，使用缺陷临近像素值填充缺陷，减少点状缺陷与线状缺陷对块状缺陷检测的影响，提高了块状缺陷检测的准确性，同时还提高了检测的多样性与准确性，克服了单一类型的亮度缺陷检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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