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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

存储器组件的多维使用空间测试

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980090558.4
  • IPC分类号:G06F11/263;G06F11/273;G06F11/22
  • 申请日期:
    2019-12-17
  • 申请人:
    美光科技公司
著录项信息
专利名称存储器组件的多维使用空间测试
申请号CN201980090558.4申请日期2019-12-17
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-07公开/公告号CN113366451A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/263IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;2;6;3;;;G;0;6;F;1;1;/;2;7;3;;;G;0;6;F;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人美光科技公司申请人地址
美国爱达荷州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人美光科技公司当前权利人美光科技公司
发明人A·提鲁文加达姆;S·帕塔萨拉蒂;P·汤姆森
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人王龙
摘要
产生表示与存储器组件的测试的使用参数对应的目标向量。将测试样本指配给所述目标向量并且产生用于所述测试样本的路径变量集。使用所述测试样本根据所述路径变量集执行所述测试的测试过程以产生测试结果。识别与所述测试结果相关联的失败。

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