具有管道化测试时钟的高速电平敏感扫描设计测试机制

发明专利无效专利

申请号：
CN200680008873.0
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2006-04-25
申请人：
国际商业机器公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	具有管道化测试时钟的高速电平敏感扫描设计测试机制
申请号	CN200680008873.0	申请日期	2006-04-25
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-03-12	公开/公告号	CN101142492
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	国际商业机器公司	申请人地址	美国纽约阿芒克变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国际商业机器公司	当前权利人	国际商业机器公司
发明人	J·D·沃莫克;W·V·赫奥特
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	王茂华

摘要

本发明描述了在LSSD系统中对测试时钟进行同步的方法以实现时钟信号近乎同时到达所有LSSD寄存器的输入。该方法依赖于管道敷设锁存器以分配测试时钟，其中所有的管道锁存器均由系统时钟同步。该增强改进了测试时钟切换的频率并通过降低测试时间而改善了测试，导致测试硬件和系统测试所需的总时间的显著减少，而无需损害与常规LSSD技术相关的任何益处。该方法进一步增强了将测试时钟信号通过按照所期待的LBIST速度调整的分配网络分配至整个芯片内的点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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