一种敷型涂覆膜厚度的测量方法、装置及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201510526666.5
IPC分类号：G01B21/08;G01B11/06
申请日期：
2015-08-25
申请人：
北京经纬恒润科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种敷型涂覆膜厚度的测量方法、装置及系统
申请号	CN201510526666.5	申请日期	2015-08-25
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-16	公开/公告号	CN105157651A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/08 用于计量厚度〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;8;;;G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人	北京经纬恒润科技有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路14号1幢4层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京经纬恒润科技股份有限公司	当前权利人	北京经纬恒润科技股份有限公司
发明人	于红娇;董则宇
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	王宝筠

摘要

本发明提供了一种敷型涂覆膜厚度的测量方法，在获取元器件的长度L1、高度H，元器件的器件封装长度L2和敷型涂覆膜的光圈长度L3后，根据其几何关系计算出元器件周围平坦区域敷型涂覆膜厚度D。该方法以电路板上的元器件作为测量点，不需要特殊的布局要求，并可以针对每个电子元器件周围进行敷型涂覆膜厚度的检查，准确的测量敷型涂覆膜的厚度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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