一种IC芯片测试分选机构

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720761097.7
IPC分类号：B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36
申请日期：
2017-06-28
申请人：
长电科技（滁州）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种IC芯片测试分选机构
申请号	CN201720761097.7	申请日期	2017-06-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B07C5/34 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B0 分离；混合 B07 将固体从固体中分离；分选 B07C 邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选（专门适用于特定用途的并已包含在其他类的，参看有关的类，如A43D 33/06、B23Q 7/12） B07C5/00 按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选（仅用手工的分选入B07C 7/00；用筛，过滤，筛选或用气流或适用于散装材料的其他干式分离法将固体从固体中分离入B07B；硬币的分选入G07D）〔3〕 B07C5/34 根据其他特殊性质来分选	IPC分类号	B;0;7;C;5;/;3;4;;;B;0;7;C;5;/;0;2;;;B;0;7;C;5;/;3;6查看分类表>
申请人	长电科技（滁州）有限公司	申请人地址	安徽省滁州市经济技术开发区城北工业园苏州路以西、世纪大道以北变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长电科技（滁州）有限公司	当前权利人	长电科技（滁州）有限公司
发明人	查虎中;汪阳
代理机构	南京知识律师事务所	代理人	蒋海军;胡锋锋

摘要

本实用新型公开了一种IC芯片测试分选机构，属于半导体集成电路元件测试分选设备领域。本实用新型包括与水平面垂直且可转动的分度盘，该分度盘的圆周上设有若干安装部，安装部上可拆卸的安装有可相互夹在一起的夹头和夹块；基座的顶部设有用于承接IC芯片的导引块；夹头为L形结构，夹头的中部转动连接在安装部上，夹头的一侧边与夹块接触；基座的顶部还设有可沿其长度方向自由伸缩的进料顶块，该进料顶块的自由端对着夹头的另一侧边；基座的其他位置还设有若干出料顶块，每个出料顶块旁设有一落料口。本实用新型的目的在于克服现有IC芯片测试分选设备测试分选的产品规格单一的缺陷，提高了生产调度灵活性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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