一种透镜焦距的测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202221849345.0
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2022-07-18
申请人：
深圳市天阳谷科技发展有限公司

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著录项信息

专利名称	一种透镜焦距的测量装置
申请号	CN202221849345.0	申请日期	2022-07-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	深圳市天阳谷科技发展有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区大浪南路435号宝龙工业区A1栋1层、2层、3层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市天阳谷科技发展有限公司	当前权利人	深圳市天阳谷科技发展有限公司
发明人	黄燕平
代理机构	深圳国联专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	陈丹丹

摘要

本实用新型公开的一种透镜焦距的测量装置，属于透镜检测装置技术领域；包括主体装置、定位装置，所述主体装置包括底座、滑台、滑块，所述底座为四棱柱结构，底座两侧边缘均设置有立板，所述立板长度和底座宽度一致，滑台置于底座顶部，滑台两端水平延伸并贴合两侧立板侧壁上，滑台顶部开设有滑槽，滑块置于滑台顶部，滑块和滑台配合形成滑动结构，两组所述滑块对称设置，其中一个滑块顶部设置有固定板，平行光源置于固定板侧壁上，且平行光源和滑台平行，远离平行光源的立板侧壁上设置有光分析模块，光分析模块和平行光源同轴，能够使透镜和平行光源同轴，提高测量精度，可以同时测量透镜的中心厚度，使用方便，操作简单。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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