实时检测物体的多处结构变形或位移的方法与装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610834030.1
IPC分类号：G01B15/06
申请日期：
2016-09-20
申请人：
香港理工大学

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著录项信息

专利名称	实时检测物体的多处结构变形或位移的方法与装置
申请号	CN201610834030.1	申请日期	2016-09-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-27	公开/公告号	CN107843218A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B15/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B15/00 以采用波或粒子辐射为特征的计量设备（G01B 9/00，G01B 11/00优先）〔4〕 G01B15/06 用于计量固体的变形	IPC分类号	G;0;1;B;1;5;/;0;6查看分类表>
申请人	香港理工大学	申请人地址	中国香港九龙红磡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	香港理工大学	当前权利人	香港理工大学
发明人	丁晓利
代理机构	隆天知识产权代理有限公司	代理人	张浴月

摘要

本发明提供一种实时检测物体的多处变形的方法与装置，该方法包括以下步骤：在适当位置分别设置测距装置和反射棱镜(只是在某些情形下需要使用反射棱镜)；在所述结构上的每一需检测的位置上设置反射面；从所述测距装置发出电磁波；所述电磁波依序经过所述每一反射面而向前传播；经过所有所述反射面反射的电磁波被反射至测距装置，或反射到所述反射棱镜并且沿着原路经过所有反射面反射至测距装置；其中所述测距装置测量所述电磁波经过的距离，通过所述测距装置测得的距离判断所述结构是否发生变形。本发明提供的实时检测物体的多处结构变形的方法能够低成本、高精度、近实时地测量物体的多点结构变形。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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