一种半导体纳米材料热输运性质测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010404230.X
IPC分类号：H04L1/00;H04L5/00;H04W76/10;G08C17/02;G01N25/20
申请日期：
2020-05-13
申请人：
湖南科技学院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种半导体纳米材料热输运性质测试系统
申请号	CN202010404230.X	申请日期	2020-05-13
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2020-08-18	公开/公告号	CN111555843A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04L1/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04L 数字信息的传输，例如电报通信（电报和电话通信的公用设备入H04M）〔4〕 H04L1/00 检测或防止收到信息中的差错的装置	IPC分类号	H;0;4;L;1;/;0;0;;;H;0;4;L;5;/;0;0;;;H;0;4;W;7;6;/;1;0;;;G;0;8;C;1;7;/;0;2;;;G;0;1;N;2;5;/;2;0查看分类表>
申请人	湖南科技学院	申请人地址	湖南省永州市零陵区杨梓塘路130号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖南科技学院	当前权利人	湖南科技学院
发明人	包本刚;孔永红;朱湘萍
代理机构	成都正华专利代理事务所（普通合伙）	代理人	李蕊

摘要

本发明公开了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，包括：由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；判断参考信号的接收功率是否大于门限值；如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收发送的测试数据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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