光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器

发明专利无效专利

申请号：
CN201110074890.7
IPC分类号：--
申请日期：
2011-03-24
申请人：
大*电子株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器
申请号	CN201110074890.7	申请日期	2011-03-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-09	公开/公告号	CN102235910A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	大*电子株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大*电子株式会社	当前权利人	大*电子株式会社
发明人	大久保和明;田口都一
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新宇;张会华

摘要

本发明提供一种光学测量装置、光学测量系统以及光纤耦合器。光学测量装置包括：光谱测量器(50)；用于传输作为测量对象的光的第1光纤(20)；在内壁上具有光扩散反射层(1a)的半球部(1)；以封闭半球部的开口部的方式配置的、在半球部的内壁侧具有镜面反射层(2a)的平面部(2)。平面部包括用于将通过第1光纤而被射出的光向由半球部和平面部形成的积分空间内导通的第1窗(5)。光学测量装置还包括将积分空间内的光透过平面部的第2窗(6)而向光谱测量器传输的第2光纤(30)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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