用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200810223268.6
IPC分类号：G01N23/04;A61B6/03
申请日期：
2008-09-28
申请人：
同方威视技术股份有限公司;清华大学

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著录项信息

专利名称	用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
申请号	CN200810223268.6	申请日期	2008-09-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-03-31	公开/公告号	CN101685072
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人	同方威视技术股份有限公司;清华大学	申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同方威视技术股份有限公司,清华大学	当前权利人	同方威视技术股份有限公司,清华大学
发明人	江年铭;李元景;张清军;王均效;赵书清;张文剑
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王新华

摘要

本发明涉及一种用于辐射成像的探测器模块，该探测器模块包括外壳；固定在外壳上的背板，所述背板包括背板电路板；设置在所述背板电路板上的至少一个第一插接件和至少一个第二插接件；至少一块前端电路板，所述前端电路板通过所述第一插接件与所述背板电路板电连接；和探测器，所述探测器通过所述第二插接件与所述背板电路板电连接。由此，本发明的探测器模块具有以下优点：模块组装方便；前端电路板拆卸方便，适合模块电路调试与维修；探测器由探测器组件构成，易于和探测器模块分离等等。本发明还涉及一种使用了上述探测器模块的辐射成像检查系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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