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一种陷印图像质量和陷印方法效果的检测方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201010113839.8
IPC分类号：G01N21/956;G06T7/00
申请日期：
2010-02-24
申请人：
北京大学;方正国际软件(北京)有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种陷印图像质量和陷印方法效果的检测方法及系统
申请号	CN201010113839.8	申请日期	2010-02-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-08-24	公开/公告号	CN102162796A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	北京大学;方正国际软件(北京)有限公司	申请人地址	北京市海淀区颐和园路5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京大学,方正国际软件(北京)有限公司	当前权利人	北京大学,方正国际软件(北京)有限公司
发明人	李平立;张宏志;袁梦尤
代理机构	北京天悦专利代理事务所（普通合伙）	代理人	田明;任晓航

摘要

本发明公开了一种陷印图像质量和陷印方法效果的检测方法及系统，属于图像检测技术领域。现有技术中，还没有一个客观的评价陷印图像质量和陷印方法效果方法，更多的是靠经验和人眼的视觉来判断。本发明通过将陷印图像按照偏移模型下的偏移情况进行偏移后得到的偏移图像和陷印对象之间的图像差异度，作为评价陷印图像和陷印方法的客观标准，能够准确地检测出陷印图像的质量和陷印方法的效果。

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