一种阻变存储器的故障测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110012792.4
IPC分类号：G11C13/00;G11C29/10
申请日期：
2021-01-06
申请人：
之江实验室

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种阻变存储器的故障测试方法
申请号	CN202110012792.4	申请日期	2021-01-06
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-04	公开/公告号	CN112750486A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C13/00 特征在于使用不包括在G11C 11/00，G11C 23/00或G11C 25/00各组内的存储元件的数字存储器	IPC分类号	G;1;1;C;1;3;/;0;0;;;G;1;1;C;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人	之江实验室	申请人地址	浙江省杭州市余杭区文一西路1818号人工智能小镇10号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	之江实验室	当前权利人	之江实验室
发明人	蒋海军;杨建国;刘琦
代理机构	杭州浙科专利事务所（普通合伙）	代理人	孙孟辉

摘要

本发明涉及新型存储芯片RRAM测试技术领域，具体涉及一种阻变存储器的故障测试方法，该方法首先扫描所有的存储单元，检测出所有的故障存储单元，并标记为一级故障类型，然后依次扫描一级故障类型里的故障存储单元，标记为二级故障类型，最后输出所有存储单元故障类型一览表。本发明可以检测出阻变存储器存储单元的主要故障类型，且检测时间短，检测故障类型准确可靠，降低了阻变存储器检测故障的错判率，提高了阻变存储器的故障测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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