一种强织构组织金属透射电子显微表征制样方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010715192.X
IPC分类号：G01Q30/20;G01N1/32;G01N1/34
申请日期：
2020-07-22
申请人：
广东省焊接技术研究所（广东省中乌研究院）

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著录项信息

专利名称	一种强织构组织金属透射电子显微表征制样方法
申请号	CN202010715192.X	申请日期	2020-07-22
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2020-10-20	公开/公告号	CN111796121A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01Q30/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01Q 扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术〔SPM〕〔2010.01〕 G01Q30/00 用于辅助或改进扫描探针技术或设备的辅助手段，例如显示或数据处理装置〔2010.01〕 G01Q30/20 样品处理装置或方法〔2010.01〕	IPC分类号	G;0;1;Q;3;0;/;2;0;;;G;0;1;N;1;/;3;2;;;G;0;1;N;1;/;3;4查看分类表>
申请人	广东省焊接技术研究所（广东省中乌研究院）	申请人地址	广东省广州市天河区长兴路363号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广东省焊接技术研究所（广东省中乌研究院）	当前权利人	广东省焊接技术研究所（广东省中乌研究院）
发明人	曾才有;张宇鹏
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	颜希文;王兰兰

摘要

本发明公开一种强织构组织金属透射电子显微表征制样方法，所述方法为：在强织构金属中切割薄片，薄片正面法向与强织构方向呈一定角度；在薄片样品中切出若干圆片试样；通过胶水将圆片试样粘贴在特制圆柱磨样器上，利用SiC砂纸将圆片试样磨薄至一定厚度，根据金属种类特性决定最终磨薄厚度；采用电解双喷减薄工艺在磨好的圆片试样中心进行穿孔，在孔周围获得可用于电子透射表征的薄区。本发明的优势在于能有效解决强织构组织晶粒取向单一，透射电镜多晶带轴倾转表征困难的问题，制样过程易操作，制备效率和成功率高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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