基于太赫兹量子器件的断层扫描成像系统及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210239697.9
IPC分类号：G01N23/04;G01N23/00
申请日期：
2012-07-11
申请人：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于太赫兹量子器件的断层扫描成像系统及方法
申请号	CN201210239697.9	申请日期	2012-07-11
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-24	公开/公告号	CN102749341A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	申请人地址	上海市长宁区长宁路865号5号楼505室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	当前权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所
发明人	曹俊诚;周涛;谭智勇;张戎;郭旭光
代理机构	上海泰能知识产权代理事务所	代理人	宋缨;孙健

摘要

本发明涉及一种基于太赫兹量子器件的断层扫描成像系统和方法，系统包括太赫兹源部分、传输汇聚光路系统、旋转平行扫描台以及太赫兹信号检测部分，太赫兹源部分包括太赫兹量子级联激光器、驱动电源以及斩波扇；传输汇聚光路系统包括第一离轴抛面镜组和第二离轴抛面镜组；太赫兹信号检测部分包括太赫兹量子阱探测器、信号处理模块以及锁相放大器。方法为太赫兹量子级联激光器出射连续太赫兹波由斩波扇调制，被离轴抛面镜组汇聚于样品上，太赫兹波透过样品通过另一组抛面镜汇聚到太赫兹量子阱探测器上，产生响应光电流，将光电流信号转换成电压信号，通过低噪声放大器放大，由锁相放大器读出数据。本发明可以有效的获取了样品断层的图像信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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