一种半导体的连接不良检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110217948.2
IPC分类号：G01R31/26;G01R31/66
申请日期：
2021-02-26
申请人：
艾极倍特（上海）半导体设备有限公司

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著录项信息

专利名称	一种半导体的连接不良检测装置
申请号	CN202110217948.2	申请日期	2021-02-26
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-28	公开/公告号	CN112858868A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;R;3;1;/;6;6查看分类表>
申请人	艾极倍特（上海）半导体设备有限公司	申请人地址	上海市奉贤区南桥镇八字桥路1919号2幢8层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	艾极倍特（上海）半导体设备有限公司	当前权利人	艾极倍特（上海）半导体设备有限公司
发明人	黄澄珵;黄新生
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明一种半导体的连接不良检测装置，通过引线键合机、半导体的连接不良检测装置、超声波振荡器、A/D转换器、数字信号处理装置、数据存储装置、确定装置、焊接机控制装置等部件之间的相互配合，与现有技术相比，即使使用相同的半导体元件，电压和电流的有效值也会随着时间的流逝而变化，这是由于焊接机尖端的工具磨损和温度升高而引起的，但是使用常规平均值的设备可以应对这种波动，进而使得其判定标准不是恒定的，提高了测量的精准性。

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