基于图像处理的芯片测试座检测

发明专利有效专利

申请号：
CN201811639239.8
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/187;G06T7/11
申请日期：
2018-12-29
申请人：
英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	基于图像处理的芯片测试座检测
申请号	CN201811639239.8	申请日期	2018-12-29
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-05-03	公开/公告号	CN109712137A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;1;8;7;;;G;0;6;T;7;/;1;1查看分类表>
申请人	英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司	申请人地址	四川省成都市成都市高新技术开发区西区科新路8-1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英特尔产品（成都）有限公司,英特尔公司	当前权利人	英特尔产品（成都）有限公司,英特尔公司
发明人	杨维平;冯河洋
代理机构	北京永新同创知识产权代理有限公司	代理人	钟胜光

摘要

提供一种用于检测芯片测试座的设备，该芯片测试座包括设置有多个插孔的基座和设置在所述基座上的探针，每个探针设置在一个插孔中，该设备包括连通域确定单元，其确定在芯片测试座的灰度图像中的一个或多个连通域；第一计算单元，其导出每个连通域的最小外接矩形的长宽比和/或最小外接圆的半径；第一缺陷检测单元，其基于该长宽比和/或半径以及对应的预先确定的第一阈值确定在芯片测试座中对应该连通域的位置处是否存在异物或基座破损。由此，实现对芯片测试座的准确高效的缺陷检测，其不依赖于操作者，即使在对大量芯片测试座长时间进行测试时，也能够保证测试的质量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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