全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构

发明专利无效专利

申请号：
CN200710099439.4
IPC分类号：G01J3/453;G01J3/18
申请日期：
2007-05-21
申请人：
北京理工大学

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专利名称	全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构
申请号	CN200710099439.4	申请日期	2007-05-21
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2007-10-10	公开/公告号	CN101050979
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/453 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/45 干涉光谱法〔4〕 G01J3/453 利用振幅的相关性〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;5;3;;;G;0;1;J;3;/;1;8查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	廖宁放;张丹;赵达尊;方俊永;梁敏勇
代理机构	北京理工大学专利中心	代理人	杨志兵

摘要

一种全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构，整个装置由三反射式前置望远镜、入射狭缝、菲涅尔双面镜、三反射式后置准直镜、三反射式柱面镜、焦平面探测器等部分组成。三反射式前置望远镜将目标成像于一维狭缝上；狭缝的像投射到菲涅尔双面镜上，并被剪切为两束具有一定交角的相干光；这两束光再经过三反射式后置准直镜后成为平行光束并以一定角度投射到三反射式柱面镜；经过聚焦最后投射到焦平面探测器表面，形成一维干涉条纹分布和另一维的灰度图像分布。本发明装置具有高分辨率、宽视场、宽光谱范围、高光通量以及光学结构小型化的特点，特别适合于航空航天遥感对地观测领域的高光谱成像系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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