集成滤波器的大规模阵列天线的测试方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201911175549.3
IPC分类号：H04B17/15;H04B17/29
申请日期：
2019-11-26
申请人：
武汉虹信通信技术有限责任公司

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著录项信息

专利名称	集成滤波器的大规模阵列天线的测试方法及装置
申请号	CN201911175549.3	申请日期	2019-11-26
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2020-02-07	公开/公告号	CN110768733A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B17/15 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B17/02 （转入H04B17/40） H04B17/10 发射机的〔2015.01〕 H04B17/15 性能测试〔2015.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;7;/;1;5;;;H;0;4;B;1;7;/;2;9查看分类表>
申请人	武汉虹信通信技术有限责任公司	申请人地址	湖北省武汉市江夏区藏龙岛谭湖二路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉虹信科技发展有限责任公司	当前权利人	武汉虹信科技发展有限责任公司
发明人	丁晋凯;许拓;贺文容;骆胜军
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	张睿

摘要

本发明实施例提供一种集成滤波器的大规模阵列天线的测试方法及装置，其中方法包括：在焊接信号连接部件前、后分别测试各通道的散射参数；对任意一个通道，将所述通道的散射参数的两次测试结果相减，获得通道的消除滤波器特性后的散射参数；其中，每个通道的信号连接部件用于所在通道的天线单元和耦合器模块。本发明实施例充分利用已有条件，处理方案简便，一致性好，不需要额外增加部件，只是将生产测试流程的顺序进行了变化。利用间接处理算法，两次测试很好地解决了由于滤波器之间不一致性引起的差异，获取到不包含滤波器的纯天线的幅度相位一致性的数据，实现对滤波器指标和单独天线指标的测试和判定。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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