一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010181000.1
IPC分类号：G01R35/00
申请日期：
2020-03-16
申请人：
吉林大学

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著录项信息

专利名称	一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法
申请号	CN202010181000.1	申请日期	2020-03-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-05	公开/公告号	CN111239667A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R35/00 包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准〔2〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	吉林大学	申请人地址	吉林省长春市前进大街2699号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	吉林大学	当前权利人	吉林大学
发明人	随阳轶;王梓骁;刘珂;刘世斌;张明维;程浩;王康
代理机构	长春吉大专利代理有限责任公司	代理人	张岩;王立文

摘要

本发明涉及一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法，包括建立各阶磁梯度张量仪的统一校正框架，获取各阶磁梯度张量旋转校正数据，将张量不变量作为约束准则，采用LM算法求解最优的校正参数，对测线上的数据进行校正，鲁棒性研究证明校正方法的准确性；该方法以磁梯度张量整体为核心，使用9个校正参数对其进行1‑模式积运算，将各阶张量不变量的旋转不变特性作为约束准则，采用LM算法求解最优的校正参数，最终完成各阶磁梯度张量仪的校正。本校正方法还独立于各种磁梯度张量的测量原理，具有广泛的应用范围。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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