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专利名称 | 一种高处构件物理尺寸测量装置及其使用方法 |
申请号 | CN201810715267.7 | 申请日期 | 2018-06-29 |
法律状态 | 实质审查 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2018-09-14 | 公开/公告号 | CN108534680A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01B11/00 | IPC分类号 | G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
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申请人 | 河南省文物建筑保护研究院 | 申请人地址 | 河南省郑州市金水区文化路86号
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 河南省文物建筑保护研究院 | 当前权利人 | 河南省文物建筑保护研究院 |
发明人 | 杨振威;任克彬;刘晨辉;赵刚;李新明;尹松 |
代理机构 | 郑州优盾知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张绍琳;栗改 |
摘要
本发明公开了一种高处构件物理尺寸测量装置及其使用方法,包括移动平台、电动伸缩支架、测量单元和单片机控制器,电动伸缩支架设置在移动平台的上方,测量单元固定设置在电动伸缩支架的顶端,测量单元包括U形框架,U形框架的内侧滑动设置有第一激光测距仪、第二激光测距仪和第三激光测距仪,第一激光测距仪、第二激光测距仪和第三激光测距仪均通过驱动机构滑动设置在U形框架内。本发明高处构件物理尺寸测量装置通过移动平台和电动伸缩支架,可以准确、快速地与高处的待测构件进行匹配,通过U形框架内设置的第一激光测距仪、第二激光测距仪和第三激光测距仪,可以实时测量待测构件的截面尺寸信息,测量便捷、节省人力。
1.一种高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:包括移动平台(1)、电动伸缩支架(2)、测量单元(3)和单片机控制器,电动伸缩支架(2)连接在移动平台(1)的上方,测量单元(3)固定设置在电动伸缩支架(2)的顶端,测量单元(3)包括U形框架(30),U形框架(30)的内侧设置有第一激光测距仪(311)、第二激光测距仪(312)和第三激光测距仪(313),第一激光测距仪(311)上下滑动设置在U形框架(30)的左侧壁的内侧,第二激光测距仪(312)上下滑动设置在U形框架(30)的右侧壁的内侧,第三激光测距仪(313)水平滑动设置在U性框架(30)的底壁的上方,第一激光测距仪(311)、第二激光测距仪(312)和第三激光测距仪(313)均通过驱动机构滑动设置在U形框架(30)内,所述单片机控制器连接有供电单元并通过控制开关分别与电动伸缩支架(2)、驱动机构、第一激光测距仪(311)、第二激光测距仪(312)和第三激光测距仪(313)相连,第一激光测距仪(311)、第二激光测距仪(312)和第三激光测距仪(313)通过单片机控制器连接有显示器(7)。
2.根据权利要求1所述的高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:所述移动平台(1)包括支撑平板(101),电动伸缩支架(2)和显示器(7)固定连接在支撑平板(101)上方,支撑平板(101)的四角开设有四个安装孔,安装孔内螺纹连接有调节螺柱(103),调节螺柱(103)下方设置有万向轮(104)。
3.根据权利要求2所述的高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:所述支撑平板(101)的上方设置有水平气泡(102),所述调节螺柱(103)穿过安装孔的上半段连接有调节手柄(105),调节手柄(105)与调节螺柱(103)构成L形调平件。
4.根据权利要求2所述的高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:所述电动伸缩支架(2)包括与支撑平板(101)固定连接的安装座(201),安装座(201)上固定设置有推杆电机(202),推杆电机(202)的固定端设置在安装座(201)内,推杆电机(202)的伸缩端固定连接所述U形框架(30),推杆电机(202)通过升降开关与单片机控制器相连接。
5.根据权利要求1-4任一项所述的高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:所述U形框架(30)的左侧壁的内侧、右侧壁的内侧和底壁的上侧均开设有滑动槽,所述驱动机构包括固定设置在滑动槽内的三个电动伸缩杆(33),三个电动伸缩杆(33)的固定端均固定设置在滑动槽内,电动伸缩杆(33)的伸缩端分别与第一激光测距仪(311)、第二激光测距仪(312)和第三激光测距仪(313)相连接,电动伸缩杆(33)通过滑动开关与单片机控制器连接。
6.根据权利要求5所述的高处构件物理尺寸测量装置,其特征在于:所述U形框架(30)的左侧壁或右侧壁的上方活动连接有测量挡板(31),测量挡板(31)与U形框架(30)的底壁相平行,测量挡板(31)的自由端与U形框架(30)的另一侧壁构成构件进口(32),构件进口(32)的宽度大于待测构件(9)的最大宽度。
7.根据权利要求1所述的高处构件物理尺寸测量装置的使用方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一:准备,在U形框架左侧壁的顶端或者右侧壁的顶端安装测量挡板,将本装置移动至待测构件下方,观察水平气泡是否位于水平位置,通过转动调节手柄并观察水平气泡的位置,精确调节支撑平板至水平位置;
步骤二:调节,操作控制开关启动电动伸缩支架,使电动伸缩支架逐渐向待测构件靠近,当待测构件从构件进口进入U形框架后,移动本装置使待测构件的顶部位于测量挡板的下方,操作控制开关使测量挡板压紧待测构件;
步骤三:测量,操作控制开关启动第一激光测距仪、第二激光测距仪、第三激光测距仪,同时启动三个电动伸缩杆,电动伸缩杆推动三个激光测距仪开始对待测构件的尺寸进行测量。
8.根据权利要求7所述的高处构件物理尺寸测量装置的使用方法,其特征在于:所述步骤三中,对三个激光测距仪的坐标位置进行实时定位,电动伸缩杆启动前,第一激光测距仪、第二激光测距仪和第三激光测距仪均位于U形框架内侧的左下角,竖直方向记为Y轴,水平方向记为X轴,所述左下角记为坐标原点(0,0),电动伸缩杆启动后,第一激光测距仪和第二激光测距仪均沿着U形框架的内侧壁竖直向上移动,同时第一激光测距仪和第二激光测距仪均实时测量在Y轴不同高度处距离待测构件的距离,进而可得出待测构件的宽度尺寸,第三激光测距仪在电动伸缩杆的推动下远离坐标原点(0,0)且水平向右移动,同时第三激光测距仪实时测量在X轴不同位置处距离待测构件的距离,进而可得出待测构件的截面高度尺寸。
9.根据权利要求1所述的高处构件物理尺寸测量装置的使用方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤一:准备,拆除左侧壁顶端或者右侧壁顶端的测量挡板,将本装置移动至待测构件下方,观察水平气泡是否位于水平位置,通过转动调节手柄并观察水平气泡的位置,精确调节支撑平板至水平位置;
步骤二:调节,操作控制开关启动电动伸缩支架,使电动伸缩支架逐渐向待测构件靠近,当待测构件从构件进口进入U形框架后,继续控制电动伸缩支架向上伸出,直至U形框架的顶端与待测构件顶端的盖板(8)相顶接;
步骤三:测量,操作控制开关启动第一激光测距仪、第二激光测距仪、第三激光测距仪,同时启动三个电动伸缩杆,电动伸缩杆推动三个激光测距仪开始对待测构件的尺寸进行测量。
10.根据权利要求9所述的高处构件物理尺寸测量装置的使用方法,其特征在于:所述步骤三中,对三个激光测距仪的坐标位置进行实时定位,电动伸缩杆启动前,第一激光测距仪、第二激光测距仪和第三激光测距仪均位于U形框架内侧的左下角,竖直方向记为Y轴,水平方向记为X轴,所述左下角记为坐标原点(0,0),电动伸缩杆启动后,第一激光测距仪和第二激光测距仪均沿U形框架的内侧壁竖直向上移动,同时第一激光测距仪和第二激光测距仪均实时测量在Y轴不同高度处距离待测构件的距离,进而可得出待测构件的宽度尺寸,第三激光测距仪在电动伸缩杆的推动下远离坐标原点(0,0)且水平向右移动,同时第三激光测距仪实时测量在X轴不同位置处距离待测构件的距离,进而可得出待测构件的截面高度尺寸。
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有引用任何外部专利数据! |
被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有被任何外部专利所引用! |