半导体装置和包括该半导体装置的测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201811621929.0
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2018-12-28
申请人：
爱思开海力士有限公司

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著录项信息

专利名称	半导体装置和包括该半导体装置的测试系统
申请号	CN201811621929.0	申请日期	2018-12-28
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-27	公开/公告号	CN110619920A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	爱思开海力士有限公司	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱思开海力士有限公司	当前权利人	爱思开海力士有限公司
发明人	张修宁;孔奎捧;李根一;朱镕奭;秋景淏
代理机构	北京弘权知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	许伟群;郭放

摘要

本申请公开了一种半导体装置和包括该半导体装置的测试系统。一种半导体装置，包括：焊盘单元，其包括多个数据输入/输出(I/O)焊盘和多个错误检测码焊盘；错误检测码(EDC)读取路径，其被配置为通过对多个数据执行错误检测操作来产生多个EDC，并且通过多个错误检测码焊盘来输出多个EDC；比较电路，其被配置为通过将多个EDC进行比较来产生比较结果信号；以及数据读取路径，其被配置为通过多个数据I/O焊盘中的任意一个来输出比较结果信号。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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