测试数据管理系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200610116713.X
IPC分类号：G06F17/00;G06F17/30;G08C19/00
申请日期：
2006-09-29
申请人：
上海华虹NEC电子有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	测试数据管理系统
申请号	CN200610116713.X	申请日期	2006-09-29
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2008-04-02	公开/公告号	CN101154214
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;0;0;;;G;0;6;F;1;7;/;3;0;;;G;0;8;C;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	上海华虹NEC电子有限公司	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华虹宏力半导体制造有限公司	当前权利人	上海华虹宏力半导体制造有限公司
发明人	陈凯华;谢晋春;陈婷;桑浚之;辛吉升
代理机构	上海浦一知识产权代理有限公司	代理人	顾继光

摘要

本发明公开了一种测试数据管理系统，包括测试仪，探针台，数据服务器，分析服务器，分析服务器和数据服务器分别和主机或总线相连接，还包括其他直接和主机或总线连接或通过服务器和主机或总线连接的设备，数据管理服务器，该数据管理服务器与分析服务器相连接并进行信号双向传递，测试时测试仪取得的数据生成临时的数据文件，并保存于测试仪的主机上，当测试结束时上述数据文件从测试仪的主机上载到数据管理服务器，通过分析服务器对数据管理服务器进行访问操作等功能。本发明通过增加数据管理服务器，增加了系统保存和传输的测试数据的格式和方法，使系统能够取得利用的测试数据供工程分析同时增加了数据的保存渠道。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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