双能欠采样物质识别方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201110391899.0
IPC分类号：G01N23/04;G01N23/087
申请日期：
2009-05-27
申请人：
清华大学;同方威视技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	双能欠采样物质识别方法和系统
申请号	CN201110391899.0	申请日期	2009-05-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-02	公开/公告号	CN102435621A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;8;7查看分类表>
申请人	清华大学;同方威视技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华园1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司	当前权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司
发明人	陈志强;张丽;刘圆圆;邢宇翔;赵自然
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	王波波

摘要

本发明公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。

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