一种判别不同素面镭射母版微观结构的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710230382.0
IPC分类号：G01N21/25
申请日期：
2017-04-10
申请人：
北京印刷学院

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专利名称	一种判别不同素面镭射母版微观结构的方法
申请号	CN201710230382.0	申请日期	2017-04-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-07-14	公开/公告号	CN106950182A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/25 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;5查看分类表>
申请人	北京印刷学院	申请人地址	北京市大兴区兴华大街（二段）1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京印刷学院	当前权利人	北京印刷学院
发明人	黄敏;石冰洁;何瑞丽;李修;何晓辉;罗长辉
代理机构	北京市广友专利事务所有限责任公司	代理人	耿小强

摘要

本发明涉及一种判别不同素面镭射母版微观结构的方法，使用多角度分光光度计测量不同素面镭射母版上固定位置的色度信息和光谱信息。首先固定镭射母版，旋转颜色测量仪器，在[0°,45°]范围每间隔5°，依次记录颜色测量仪器在45°探测角度测量得到色度值L*值；选取其中一块素面镭射母版作为标准母版，将各待比较素面镭射母版L*值最大值出现的位置与标准母版L*值最大值出现的位置对齐；采集标准母版和待比较素面镭射母版上任一处位置的光谱信息；结合光栅方程，通过颜色测量仪器采集到不同素面镭射母版光谱能量分布曲线的形状和峰值波长比较，测定判别、比较不同素面镭射母版的微观结构。该方法具有操作方便、简单快捷的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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