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用于波前寻址测调的液晶微镜、其制备方法和光学显微镜

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910065404.1
  • IPC分类号:G02F1/1343
  • 申请日期:
    2019-01-24
  • 申请人:
    南京奥谱依电子科技有限公司
著录项信息
专利名称用于波前寻址测调的液晶微镜、其制备方法和光学显微镜
申请号CN201910065404.1申请日期2019-01-24
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-05-21公开/公告号CN109782498A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02F1/1343IPC分类号G;0;2;F;1;/;1;3;4;3查看分类表>
申请人南京奥谱依电子科技有限公司申请人地址
江苏省南京市建邺区江东中路359号国睿大厦一号楼B区4楼A506室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京奥谱依电子科技有限公司当前权利人南京奥谱依电子科技有限公司
发明人张新宇;张汤安苏
代理机构武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙)代理人宋业斌
摘要
本发明公开了一种用于波前寻址测调的液晶微镜,包括从上至下依次平行设置的第一增透膜、第一基片、图案化电极、第一液晶定向层、液晶层、第二液晶定向层、公共电极、第二基片、以及第二增透膜,图案化电极和公共电极彼此同心设置,图案化电极包括多个以对称方式排列的矩形子电极,各个矩形子电极之间是电绝缘的,每个矩形子电极上均匀设置有多个微孔,各个矩形子电极通过各自的电连接线从图案化电极引出,并与从公共电极引出的电连接线一起,分别连接到各个外部控制信号Uk的两端,用于在所述液晶微镜被接入光路从而形成光学显微镜时,实现以可寻址方式测量和调节波前。本发明具有可寻址时序测量及调变成像光束波前与点扩散函数用于显微成像测量的优点。

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