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拉晶方法和拉晶装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011611880.8
  • IPC分类号:C30B29/06;C30B30/04;C30B15/22
  • 申请日期:
    2020-12-30
  • 申请人:
    上海新昇半导体科技有限公司
著录项信息
专利名称拉晶方法和拉晶装置
申请号CN202011611880.8申请日期2020-12-30
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-05-25公开/公告号CN112831836A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C30B29/06IPC分类号C;3;0;B;2;9;/;0;6;;;C;3;0;B;3;0;/;0;4;;;C;3;0;B;1;5;/;2;2查看分类表>
申请人上海新昇半导体科技有限公司申请人地址
上海市浦东新区临港新城云水路1000号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海新昇半导体科技有限公司当前权利人上海新昇半导体科技有限公司
发明人沈伟民;雷友述
代理机构北京市磐华律师事务所代理人胡竞之
摘要
本发明公开了一种拉晶方法和拉晶装置。所述方法包括:在拉晶过程中,保持用以容纳硅熔体的坩埚旋转的同时对坩埚内的硅熔体施加水平方向的磁场,其中,当改变所述磁场的磁场强度时和/或当改变所述磁场的磁场强度后,容易引起硅晶棒晶棒和熔体的固液界面温度的波动,通过改变坩埚的旋转速度,改变坩埚内硅熔体的强迫对流,从而快速降低由于磁场强度的改变导致的固液界面温度的波动,使拉晶过程得到的晶棒直径趋于稳定。

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