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钝化层形成用组合物、带钝化层的半导体基板及其制造方法、以及太阳能电池元件及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201380038176.X
  • IPC分类号:H01L31/0216;H01L31/18
  • 申请日期:
    2013-07-19
  • 申请人:
    日立化成株式会社
著录项信息
专利名称钝化层形成用组合物、带钝化层的半导体基板及其制造方法、以及太阳能电池元件及其制造方法
申请号CN201380038176.X申请日期2013-07-19
法律状态驳回申报国家暂无
公开/公告日2015-03-25公开/公告号CN104471719A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L31/0216IPC分类号H;0;1;L;3;1;/;0;2;1;6;;;H;0;1;L;3;1;/;1;8查看分类表>
申请人日立化成株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日立化成株式会社当前权利人日立化成株式会社
发明人足立修一郎;吉田诚人;野尻刚;仓田靖;田中彻;织田明博;早坂刚;服部孝司;松村三江子;渡边敬司;森下真年;滨村浩孝
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人葛凡
摘要
本发明的钝化层形成用组合物包含:至少一种通式(I)所示的烷醇盐;选白钛化合物、锆化合物及烷醇硅中的至少一种化合物;溶剂;和树脂。通式(I)中,M包含选白Nb、Ta、V、Y及Hf中的至少一种金属元素。R1表示碳数1~8的烷基或碳数6~14的芳基。m表示1~5的整数。M(OR1)m (I)。

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