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一种基于光照反射模型的微细孔三维形貌测量装置及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201810361225.8
  • IPC分类号:G01B11/00;G01B11/24;G01B11/06;G01B11/22
  • 申请日期:
    2018-04-20
  • 申请人:
    南京航空航天大学;南京航空航天大学无锡研究院
著录项信息
专利名称一种基于光照反射模型的微细孔三维形貌测量装置及方法
申请号CN201810361225.8申请日期2018-04-20
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2018-08-28公开/公告号CN108458658A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/00IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;1;B;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人南京航空航天大学;南京航空航天大学无锡研究院申请人地址
江苏省无锡市惠山区洛社镇人民南路40号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人南京航空航天大学,南京航空航天大学无锡研究院当前权利人南京航空航天大学,南京航空航天大学无锡研究院
发明人叶明;应徐超;孙世凡
代理机构上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)代理人杨小双
摘要
本发明公开一种基于光照反射模型的微细孔三维形貌测量装置及方法,涉及物体三维测量技术领域。它包括运动牵引模块和测量传感器模块,运行牵引模块实现测量传感器模块在微细孔内的移动和定位,测量传感器模块完成不同光照模式下的孔内表面缺陷图像的采集。通过设计开发出的测量传感器模块,基于反射模型构建方法获得孔内表面光照反射模型,利用成像系统采集的特定光照模式下的序列图像,完成孔内表面缺陷三维曲面的重构,实现基于光照反射模型的微细孔内表面缺陷几何量,尤其是缺陷高度或深度尺寸的测量。本发明解决航空航天、汽车、化工等工业领域对微孔内表面中缺陷三维信息测量的迫切需求,为上述领域产品品质提升、安全使用提供关键技术支持。

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