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存储设备的测试方法及测试装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610083475.7
  • IPC分类号:G11B20/18
  • 申请日期:
    2006-05-30
  • 申请人:
    杭州华为三康技术有限公司
著录项信息
专利名称存储设备的测试方法及测试装置
申请号CN200610083475.7申请日期2006-05-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-10-25公开/公告号CN1851819
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11B20/18IPC分类号G;1;1;B;2;0;/;1;8查看分类表>
申请人杭州华为三康技术有限公司申请人地址
浙江省杭州市滨江区长河路466号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人新华三技术有限公司当前权利人新华三技术有限公司
发明人瞿凯;朱根俊
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人逯长明
摘要
本发明公开了一种存储设备的测试方法,包括:加载提供单一操作接口的存储设备驱动;执行基于对存储设备的单一操作所构建的测试流程,其中对存储设备的单一操作通过存储设备驱动的单一操作接口进行。本发明可以灵活地根据需要采用各种不同的测试方式对存储设备进行测试;支持多个及多种存储设备的同时测试;根据本发明实现的测试软件可以运行在操作系统上,也可以运行在无操作系统的环境下,其分层架构具有良好的移植性,便于扩展测试功能。

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