基于双平行马赫增德尔调制器测量多普勒频移的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710065448.5
IPC分类号：G01R23/02
申请日期：
2017-01-24
申请人：
西安电子科技大学

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著录项信息

专利名称	基于双平行马赫增德尔调制器测量多普勒频移的方法
申请号	CN201710065448.5	申请日期	2017-01-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-06-09	公开/公告号	CN106814247A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R23/00 测量频率的装置；频谱分析装置 G01R23/02 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市雁塔区太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	陈玮;文爱军;李晓艳
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于双平行马赫增德尔调制器测量多普勒频移的方法。该发明涉及微波技术和光通信技术领域。所述发明方法如图所示，包括激光二极管、双平衡马赫增德尔调制器、掺铒光纤放大器、密集型波分复用器、光电检测器。本发明采用双平衡马赫增德尔调制器对回波信号和发送信号进行抑制载波双边带调制，充分利用上下边带的功率和相位差测量多普勒频移的大小和正负，测量误差小，载频范围可以在很大的范围内任意调节而不恶化测量误差。此外，该方法所用器件少，结构简单，易于操作，在雷达、侦察系统中有良好的应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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