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测试只读存储器的电路

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN03231629.1
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2003-05-30
  • 申请人:
    上海华园微电子技术有限公司
著录项信息
专利名称测试只读存储器的电路
申请号CN03231629.1申请日期2003-05-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人上海华园微电子技术有限公司申请人地址
上海市宜山路900号A区六楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海华园微电子技术有限公司当前权利人上海华园微电子技术有限公司
发明人尚为兵;孙恩强;印义言
代理机构上海开祺专利代理有限公司代理人李兰英
摘要
本实用新型涉及一种测试只读存储器的电路,通过只读存储器控制信号端(2),读只读存储器信号的控制电路(3),只读存储器数据运算电路(4)和输出电路(5)对只读存储器(1)的测试以及对测试结果的数据输出的判断,以检验只读存储器(1)内固化的COS(片内操作系统)数据是否正确,保证了IC卡的安全使用。

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