电阻性存储元件的双回路检测方案

发明公开有效专利

申请号：
CN201310283721.3
IPC分类号：G11C13/00; G11C7/06; G11C11/16
申请日期：
2003-07-30
申请人：
微米技术有限公司

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著录项信息

专利名称	电阻性存储元件的双回路检测方案
申请号	CN201310283721.3	申请日期	2003-07-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103366807A
优先权	10/222,843 2002.08.19 US	优先权号	US20020222843
主分类号	G11C13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C13/00 特征在于使用不包括在G11C 11/00，G11C 23/00或G11C 25/00各组内的存储元件的数字存储器	IPC分类号	G;1;1;C;1;3;/;0;0;;; ;G;1;1;C;7;/;0;6;;; ;G;1;1;C;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	微米技术有限公司	申请人地址	美国爱达荷州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	微米技术有限公司	当前权利人	微米技术有限公司
发明人	R.J.贝克
代理机构	中国专利代理(香港)有限公司	代理人	姜甜; 汤春龙

摘要

检测电阻性存储元件的电阻状态的方法和装置包括产生与存储单元的电阻相关的第一电流。在第一检测时间期间把所述第一电流加到第二电流，并且在第二检测时间期间从第三电流减去所述第一电流。利用电容器对所述第一、第二和第三电流进行时间积分，并且利用时钟控制的计数器对所述电容器上的结果电压信号进行计时。然后，使时钟控制的计数器的数字输出的时间平均值与存储单元的电阻相关，从而与电阻性存储元件的电阻状态相关。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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