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一种基于工艺匹配的微小型结构件快速显微检测方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910085601.6
IPC分类号：G01B11/24;G01B11/08;G01B11/12;G01B11/00;G06T7/00
申请日期：
2009-05-26
申请人：
北京理工大学

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于工艺匹配的微小型结构件快速显微检测方法及装置
申请号	CN200910085601.6	申请日期	2009-05-26
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2010-01-06	公开/公告号	CN101619964
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;0;8;;;G;0;1;B;1;1;/;1;2;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	张之敬;叶鑫;金鑫;张林;杜芳;程朋乐
代理机构	北京理工大学专利中心	代理人	高燕燕

摘要

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