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竖直纳米线半导体装置和其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980021545.1
  • IPC分类号:H01L29/06;H01L21/02
  • 申请日期:
    2019-03-05
  • 申请人:
    洪瑛
著录项信息
专利名称竖直纳米线半导体装置和其制造方法
申请号CN201980021545.1申请日期2019-03-05
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-11-06公开/公告号CN111902944A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/06IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人洪瑛申请人地址
辽宁省沈阳市皇姑区黄浦江街21号1-12-3 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人洪瑛当前权利人洪瑛
发明人洪瑛
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人暂无
摘要
本发明涉及一种用于纳米线半导体装置的制造方法。制造方法包括以下步骤在衬底上形成晶种层;在晶种层上形成多层,第一导电层、半导体硅层以及第二导电层以所述次序沉积在多层中;使多层图案化以在衬底上形成竖直纳米线;通过热处理使纳米线结晶;形成覆盖纳米线的绝缘层;形成围绕由纳米线的半导体硅层界定的沟道区的栅极;以及形成电连接到栅极、第一导电层以及第二导电层的金属接垫。

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