检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010414964.6
IPC分类号：G01N15/06
申请日期：
2020-05-15
申请人：
中国计量科学研究院

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法
申请号	CN202010414964.6	申请日期	2020-05-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-07	公开/公告号	CN111504870A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/06 测试悬浮颗粒的浓度（G01N 15/04，G01N 15/10优先；用称重法入G01N 5/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;6查看分类表>
申请人	中国计量科学研究院	申请人地址	北京市朝阳区北三环东路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量科学研究院	当前权利人	中国计量科学研究院
发明人	胡志上;李红梅;米薇
代理机构	北京润平知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明涉及药品中聚集体颗粒浓度检测领域，具体涉及一种检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法。该方法包括在流式细胞仪上分别采用FSC和SSC通道检测所述样品在激发的前向散射光和侧向散射光，其中，目标粒径为0.1‑1μm区间，FSC检测电压405‑435V，SSC检测电压290‑310V，SSC阈值600‑1200；目标粒径为1μm以上区间，FSC检测电压175‑205V，SSC检测电压120‑140V，SSC阈值600‑1200。采用本发明的方法能够同时对样品中1微米以下和200纳米以上的可溶性聚集体颗粒以及1微米以上的不溶性聚集体颗粒进行高灵敏度、高分辨率和精准定量地检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供