半导体元件测试站

发明专利无效专利

申请号：
CN201410603155.4
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2014-10-31
申请人：
扬州泽旭电子科技有限责任公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	半导体元件测试站
申请号	CN201410603155.4	申请日期	2014-10-31
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-01	公开/公告号	CN105629146A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	扬州泽旭电子科技有限责任公司	申请人地址	江苏省扬州市江都区仙女镇工业园区江佳路变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	扬州泽旭电子科技有限责任公司	当前权利人	扬州泽旭电子科技有限责任公司
发明人	蒋艳丽;李永备;张磊
代理机构	扬州市锦江专利事务所	代理人	秦关华

摘要

半导体元件测试站，涉及半导体元件生产领域。包括底座、调节竖板、直板、测试横板、测试座调节台和测试座，直板通过固定座固定在底座上，调节竖板安装在直板上，测试横板设置在调节竖板上方，测试座调节台固定在测试横板上，测试座安装在测试座调节台上，调节竖板上安装有气缸，气缸的输出端固定有连接板。本发明的调节竖板上安装有气缸，气缸的输出端通过连接板连接测试横板，测试时，先要调整好气缸的气压，气缸上顶测试横板，带动测试横板上的测试座上行，若吸嘴下压测试座的压力大于气缸上顶作用力时，气缸自动缩回，避免了半导体元件的损坏。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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