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PLL老化电路以及半导体集成电路

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200780048484.5
  • IPC分类号:H03L7/099;H03L7/08
  • 申请日期:
    2007-12-20
  • 申请人:
    松下电器产业株式会社
著录项信息
专利名称PLL老化电路以及半导体集成电路
申请号CN200780048484.5申请日期2007-12-20
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-11-04公开/公告号CN101573870
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03L7/099IPC分类号H;0;3;L;7;/;0;9;9;;;H;0;3;L;7;/;0;8查看分类表>
申请人松下电器产业株式会社申请人地址
日本大阪府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人松下电器产业株式会社当前权利人松下电器产业株式会社
发明人山田祐嗣;木下雅善;曾川和昭;中冢淳二
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人王永刚
摘要
本发明提供一种PLL老化电路以及半导体集成电路。在未内置环路滤波器的PLL中,使用较少的电路结构构成用于以适当的振荡频率对压控振荡器进行老化测试的附加电路。经由开关(12a)在压控振荡器(10)内的电压电流变换晶体管(11)的栅极端子上连接与晶体管(11)相同极性的进行了二极管连接的晶体管(13)的栅极,在晶体管(13)的漏极端子上连接电流源(14),适当地调整电流源(14)供给的电流值、晶体管(11)以及晶体管(13)的尺寸比,从而可以对压控振荡器(10)内的环形振荡器供给用于进行老化测试而所需的电流。

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