稀疏2D点集的深度特征提取方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010006265.8
IPC分类号：G06T7/50;G06T7/73;G06N3/04
申请日期：
2020-01-03
申请人：
三星（中国）半导体有限公司;三星电子株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	稀疏2D点集的深度特征提取方法及装置
申请号	CN202010006265.8	申请日期	2020-01-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-02	公开/公告号	CN111223136A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕 G06T7/50 深度或形状恢复〔2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;5;0;;;G;0;6;T;7;/;7;3;;;G;0;6;N;3;/;0;4查看分类表>
申请人	三星（中国）半导体有限公司;三星电子株式会社	申请人地址	陕西省西安市高新区洨河北路1999号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星（中国）半导体有限公司,三星电子株式会社	当前权利人	三星（中国）半导体有限公司,三星电子株式会社
发明人	李茁;杨慧光;李宇光;杨柳
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	王皎彤;王兆赓

摘要

提供一种稀疏2D点集的深度特征提取方法及装置。稀疏2D点集的深度特征提取方法包括：根据输入的稀疏2D点集数据，生成所述稀疏2D点集数据的具有空间层次的包括关键点集和局部点集的点集结构数据；分别对关键点集和局部点集进行关系特征编码，得到关键点集的关系特征编码和局部点集的关系特征编码；根据关键点集的关系特征编码和/或局部点集的关系特征编码分别提取所述输入的稀疏2D点集数据的全局特征和/或局部特征，从而实现了稀疏点集深度网络特征的完整准确提取。此外，对稀疏2D点集进行深度特征提取得到的全局特征和/或局部特征可以用于估计预设对象的6自由度位姿，还可以用于对输入的稀疏2D点集数据进行分割。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供