基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201410038761.6
IPC分类号：G01N21/23
申请日期：
2014-01-27
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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专利名称	基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统
申请号	CN201410038761.6	申请日期	2014-01-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-05-14	公开/公告号	CN103792192A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/23 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/21 影响偏振的性质（G01N 21/19优先）〔3〕 G01N21/23 双折射〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;3查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市嘉定区800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	陈艳;李中梁;王向朝;南楠;郭昕;王瑄;张行
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种基于单探测器的偏振频域光学相干层析成像系统，包括低相干光源、第一准直器、起偏器、迈克尔逊干涉仪、偏振分束器、第二准直器、第一光纤、第三准直器、第四准直器、第二光纤、第五准直器、光栅、柱面透镜和探测器。本发明采用单一探测器，简化了系统结构，避免了两个探测器采集信号时存在的时间不同步问题，同时本发明中两路光都以最高衍射效率的入射角度照射到光栅上，衍射效率的提高增大了系统的信噪比，提高了图像质量。

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