红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200510125666.0
IPC分类号：G01N25/72
申请日期：
2005-12-02
申请人：
首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司

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著录项信息

专利名称	红外热波无损检测中提高吸收率和发射率的方法及装置
申请号	CN200510125666.0	申请日期	2005-12-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-05-03	公开/公告号	CN1766595
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/72 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/72 测试缺陷的存在	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;7;2查看分类表>
申请人	首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司	申请人地址	北京市海淀区西三环北路105号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	首都师范大学,北京维泰凯信新技术有限公司	当前权利人	首都师范大学,北京维泰凯信新技术有限公司
发明人	王迅;段玉霞;金万平;冯立春;张存林
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及红外热波无损检测技术，尤其是在红外热波无损检测过程中提高被测物体表面吸收率和发射率的方法及其装置。方法的特征在于在红外热波无损检测过程中，选用具有较好可见光吸收率和红外发射率的功能薄膜，包裹被测物体，并通过将被测物体表面和薄膜之间空气抽掉的方法使功能膜和被测物体紧密接触。本发明提供的实现上述方法的装置，其特征在于由功能薄膜构成抗反射真空袋，真空袋上带有抽气孔和用于密封的卡扣。本发明能够实现检测过程中对被检测物体完全无污损的同时，还能提高被测物体对可见光的吸收率和红外发射率，从而大大提高红外热波无损检测对表面反射率较高且不可进行喷漆处理的物体的检测效果适用于对易腐蚀或者精密航天、航空器件的红外热波无损检测。

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