物面形变测量方法和测量系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201410426311.4
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2014-08-26
申请人：
北京信息科技大学

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著录项信息

专利名称	物面形变测量方法和测量系统
申请号	CN201410426311.4	申请日期	2014-08-26
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2014-12-17	公开/公告号	CN104215193A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	北京信息科技大学	申请人地址	北京市海淀区永嘉北路4号院1号楼A座A405 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京欧博力科技有限公司	当前权利人	北京欧博力科技有限公司
发明人	吴思进;高新亚;杨连祥;祝连庆;周哲海
代理机构	北京金律言科知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	逯博;罗延红

摘要

本发明涉及一种物面形变测量方法和测量系统，其中，一种物面形变测量方法包括：确定待测物面的三维形貌数据；通过激光散斑干涉测量确定所述待测物面的原始形变测量数据；根据所述三维形貌数据校正所述形变测量数据，以得到所述待测物面的最终三维形变分布数据。本发明可实现对一定曲率的物面形变数据的精密测量和校正，具有广泛的应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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