一种开关测试设备电路及开关测试设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201910624963.1
IPC分类号：G01R31/327;G01R19/00
申请日期：
2019-07-11
申请人：
上海工程技术大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种开关测试设备电路及开关测试设备
申请号	CN201910624963.1	申请日期	2019-07-11
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-11-05	公开/公告号	CN110412455A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7;;;G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	上海工程技术大学	申请人地址	上海市松江区龙腾路333号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海工程技术大学	当前权利人	上海工程技术大学
发明人	周志峰;贾强汉;朱益飞;涂婷
代理机构	上海科盛知识产权代理有限公司	代理人	宣慧兰

摘要

本发明涉及一种开关测试设备电路，包括待测开关压降采集电路，所述待测开关压降采集电路包括依次连接的电流采集单元(2)、电压比较单元(3)、光电继电器单元(4)、A/D采样单元(6)和控制器，所述电流采集单元(2)采集待测开关所在回路(1)的电流，电压比较单元(3)的输出控制光电继电器单元(4)的开闭，继而控制A/D采样单元(6)和控制器的通断。与现有技术相比，设有压降采集电路，可以对待测开关两端压降进行采集，且保证A/D采样单元(6)不受过高输入电压的损害。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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