一种二维单射曲面数据的特征提取与匹配方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010500552.0
IPC分类号：G06T7/00
申请日期：
2010-09-30
申请人：
清华大学

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著录项信息

专利名称	一种二维单射曲面数据的特征提取与匹配方法
申请号	CN201010500552.0	申请日期	2010-09-30
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2011-01-26	公开/公告号	CN101957992A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	江苏省苏州市高新区科技城锦峰路158号16幢301室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州国溯环境发展有限公司	当前权利人	苏州国溯环境发展有限公司
发明人	吴静;刘永进;罗曦
代理机构	北京鸿元知识产权代理有限公司	代理人	邸更岩

摘要

一种二维单射曲面数据的特征提取和匹配方法，该方法首先将二维单射曲面数据投影到灰度值与数据值成正比的灰度图像，并将图像中的灰度值归一化到区间[0，255]中，然后从图像中提取特征点集；以特征点集中的每一个特征点作为参考点，在图像中绘制通过该特征点的等灰度线，且在图像中连接同一等灰度线上的特征点，这些等灰度线以及特征点之间的连线将图像划分成连续的区域块，根据区域块之间的包围和相邻关系构造一个Reeb图。对于需要匹配的两个二维单射曲面数据，通过匹配两个Reeb图中的结点，计算结点之间的相似度，所有匹配结点的相似度之和为两个二维单射曲面数据之间的相似度。本发明所提供的方法使得提取的特征容易计算，并且稳定性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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