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用于识别局部损坏存储器的自测试方法和装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510129147.1
  • IPC分类号:G06F12/08
  • 申请日期:
    2005-11-14
  • 申请人:
    国际商业机器公司
著录项信息
专利名称用于识别局部损坏存储器的自测试方法和装置
申请号CN200510129147.1申请日期2005-11-14
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-06-14公开/公告号CN1786929
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F12/08IPC分类号G;0;6;F;1;2;/;0;8查看分类表>
申请人国际商业机器公司申请人地址
美国纽约 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国际商业机器公司当前权利人国际商业机器公司
发明人W·V·霍特;D·J·伦德;K·H·马茨;B·L·梅希特利;P·帕特尔
代理机构北京市中咨律师事务所代理人于静;杨晓光
摘要
提供了一种计算机系统,其包括具有高速缓冲存储器的处理器。该高速缓冲存储器包括多个可独立配置的子部分,每个子部分包括存储器阵列。计算系统的服务单元(SE)可被操作用于使内装自测试(BIST)被执行以便测试该高速缓冲存储器,BIST可被操作用于确定任意子部分是否为损坏的。当确定了由BIST确定损坏的高速缓冲存储器的一个子部分是不可修复的时候,该SE从系统配置中逻辑地删除该损坏子部分,并且该SE可被操作用于允许处理器在不具有所述被逻辑删除子部分的情况下运行。该SE还可被操作用于当损坏子部分的数量超过阈值时确定处理器是损坏的。

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