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导电的齿形面的运动参数测定方法和装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200480010313.X
  • IPC分类号:G01D5/20;G01P3/489;G01B7/02
  • 申请日期:
    2004-02-17
  • 申请人:
    微-埃普西龙测量技术有限两合公司
著录项信息
专利名称导电的齿形面的运动参数测定方法和装置
申请号CN200480010313.X申请日期2004-02-17
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2006-05-17公开/公告号CN1774615
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D5/20IPC分类号G;0;1;D;5;/;2;0;;;G;0;1;P;3;/;4;8;9;;;G;0;1;B;7;/;0;2查看分类表>
申请人微-埃普西龙测量技术有限两合公司申请人地址
德国奥滕伯格 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人微-埃普西龙测量技术有限两合公司当前权利人微-埃普西龙测量技术有限两合公司
发明人S·蒙德尼科夫;M·内特切维斯基;F·蒙德尼科夫;W·格罗玛;M·瑟兰
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人张政权
摘要
一种导电且优选为齿形面(22)相对一传感器(3)的运动参数的一种测定方法和装置,而所述传感器包括至少一产生一交变电磁场的线圈(16),所述电磁场由于在所述齿形面(22)和所述传感器(3)之间的位置变化引起的反馈而经历一可通过所述线圈(16)测定的变化,所述方法和装置这样设置以致于所述位置变化由所述线圈(16)的耦合阻抗(Zc)导出,而且利用一在所述传感器(3)和所述齿形面(22)之间的距离d来测定所述线圈(16)的复耦合阻抗(Zc)的实数部份(Rc)和虚数部份(Xc),所述距离d基于所述测定值且同时采用一算法为基来计算。

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