可同时测试多个待测物的装置

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专利名称	可同时测试多个待测物的装置
申请号	CN200520011965.7	申请日期	2005-05-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	明基电通股份有限公司	申请人地址	台湾省桃园县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	明基电通股份有限公司	当前权利人	明基电通股份有限公司
发明人	郑为元;曾力民
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	蒲迈文;黄小临

摘要

本实用新型提出一种可同时测试多个待测物的装置，藉由多任务器将测试时的测试信号多任务或选择输出，以供多个待测物或指定待测物作为测试的用。在本实用新型中，可同时对多个待测物进行测试，因此本实用新型具有降低测试时的复杂度、加快测试速度、减少成本支出等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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