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二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710233374.1
  • IPC分类号:H03M7/30;G01R31/28
  • 申请日期:
    2017-04-11
  • 申请人:
    安庆师范大学
著录项信息
专利名称二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法
申请号CN201710233374.1申请日期2017-04-11
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-08-08公开/公告号CN107026651A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03M7/30IPC分类号H;0;3;M;7;/;3;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人安庆师范大学申请人地址
安徽省安庆市宜秀区集贤北路1318号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安庆师范大学当前权利人安庆师范大学
发明人詹文法;程一飞;张振林
代理机构合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)代理人丁瑞瑞
摘要
本发明公开了一种二分区间的数据压缩方法,将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0,1),再通过多次二分区间的方法找到该位置,存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。本发明还公开了一种集成电路测试数据的存储方法。本发明相比现有技术具有以下优点:提高了测试效率,由于将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0,1),再通过多次二分区间的方法找到该位置,存储该二分区间的规律即可存储该若干个测试向量甚至整个测试集,占用空间较小,并且运算简单,非常实用。

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