可替换的模块化电性检测头及其测试针

发明专利有效专利

申请号：
CN202010285539.1
IPC分类号：G01R1/067
申请日期：
2020-04-13
申请人：
中国探针股份有限公司

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著录项信息

专利名称	可替换的模块化电性检测头及其测试针
申请号	CN202010285539.1	申请日期	2020-04-13
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-22	公开/公告号	CN113533803A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人	中国探针股份有限公司	申请人地址	中国台湾新北市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国探针股份有限公司	当前权利人	中国探针股份有限公司
发明人	郑文瑛;谢健堉;蔡伯晨
代理机构	北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司	代理人	李林

摘要

本发明提供一种可替换的模块化电性检测头及其测试针，该可替换的模块化电性检测头是中空帽型薄壳状导电结构，且具有一中空帽型鞘套部、一环形帽沿部及一形变回复缺口，中空帽型鞘套部为管状结构，环形帽沿部为片状结构并由中空帽型鞘套部一端向外延伸形成且表面设有复数凸出结构，形变回复缺口由该中空帽型鞘套部一端弯折经过该环形帽沿部并延伸至该环形帽沿部边缘，据此施力使形变回复缺口靠合并于中空帽型鞘套部置于测试针本体的穿孔后，当形变回复缺口复归时即可让中空帽型鞘套部撑抵于穿孔的内表面。如此可达到快速且简易的更替功效，且相较于传统的测试针结构，本发明除了制造简易也具有更低廉的生产成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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