一种芯片进入测试模式的保护方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201510505906.3
IPC分类号：G06F11/22;G06F21/72
申请日期：
2015-08-17
申请人：
大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司

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著录项信息

专利名称	一种芯片进入测试模式的保护方法和系统
申请号	CN201510505906.3	申请日期	2015-08-17
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-11-11	公开/公告号	CN105045695A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;G;0;6;F;2;1;/;7;2查看分类表>
申请人	大唐微电子技术有限公司;大唐半导体设计有限公司	申请人地址	北京市海淀区永嘉北路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大唐微电子技术有限公司,大唐半导体设计有限公司	当前权利人	大唐微电子技术有限公司,大唐半导体设计有限公司
发明人	高洪福;田圆
代理机构	北京安信方达知识产权代理有限公司	代理人	胡艳华;栗若木

摘要

本发明公开了一种芯片进入测试模式的保护方法和系统，应用于硅片上相邻的第一芯片和第二芯片，第一芯片和第二芯片间有划片槽，划片槽内设置有加密电路，方法包括：如果第一芯片检测到来自第二芯片的测试模式使能信号，产生验证信息和加密密钥发送给加密电路，并将验证信息发送给所述第二芯片；加密电路使用加密密钥对验证信息进行加密，并将加密结果发送给第二芯片；第二芯片对接收到的加密结果进行解密，并在判断出解密结果和接收到的验证信息相同后，确定测试使能信号有效，进入测试模式。通过本发明，提升了芯片的安全性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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